 | 半微量電子天平PWN125DZH量程：50/120g ，可讀性：0.01/0.1mg ，校準(zhǔn)方式：內(nèi)部校準(zhǔn) |
 | 半微量電子天平PWN85ZH量程：82g ，可讀性：0.01mg ，校準(zhǔn)方式：內(nèi)部校準(zhǔn) |
 | 半微量電子天平PWN225DZH量程：82/220g ，可讀性：0.01/0.1mg ，校準(zhǔn)方式：內(nèi)部校準(zhǔn) |
 | 微量分析天平XPE26DR量程及可讀性：5.1g/2ug,22g/0.01mg，校準(zhǔn)方式：內(nèi)部校準(zhǔn) |
 | 微量分析天平XPE56量程：52g，精度：1ug，校準(zhǔn)方式：內(nèi)部校準(zhǔn)。 |
 | 微量分析天平XPE26量程：22g，精度：1ug，校準(zhǔn)方式：內(nèi)部校準(zhǔn) |
 | XP6微量天平量程及可讀性: 6.1g/1ug，校準(zhǔn)方式：內(nèi)部校準(zhǔn)。 |
 | XP2U微量天平量程及可讀性: 2.1g/0.1ug，校準(zhǔn)方式：內(nèi)部校準(zhǔn)。 |
 | XP26DR微量天平量程及可讀性:5.1g/2ug,22g/0.01mg，校準(zhǔn)方式：內(nèi)部校準(zhǔn)。 |
 | XP26微量天平量程及可讀性: 22g/1ug，校準(zhǔn)方式：內(nèi)部校準(zhǔn)。 |
 | XP56DR微量天平量程及可讀性:11g/2ug,52g/0.01mg，校準(zhǔn)方式：內(nèi)部校準(zhǔn)。 |
 | XP6U微量天平量程及可讀性:6.1g/0.1ug，校準(zhǔn)方式：內(nèi)部校準(zhǔn)。 |
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